簡(jiǎn)要描述:薄膜測(cè)厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測(cè)量,具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn),可在真空環(huán)境使用;可與大行程工件臺(tái)配合,實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測(cè)量。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子 |
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